材料介电常数介质损耗和导磁率常用测试方案

● 对材料要求：表面光滑且均匀薄片或者薄膜，不同夹具对厚度和直径有要求;

● 覆盖频率：1MHz至160MHz;

● 测试主机：LJD-C

● 夹具：S916，液体材料使用液体杯

● 优点：适合平板材料、薄膜材料、价格经济、精度高可达±1%;

● 缺点：测试频率低、对材料尺寸要求高，不支持测试磁导率;

谐振腔法测试介电特性

谐振腔测试法使用网络分析仪来测量谐振频率和谐振腔体夹具的Q值，在测试开始时是空白设置，随后加载被测样品。当已知样品的体积和谐振腔的其他参数时，通过这些测量来计算介电常数。

谐振腔体有比较高的Q值，可在特定频率上发生谐振。将一片材料样品插入到腔体中，会改变腔体的谐振频率(f)和品质因数(Q)。根据这些测得的参数，可以计算出材料在某一频率上的复数介电常数。典型的测量系统由网络分析仪、谐振腔体夹具以及计算软件组成。

● 对材料要求：样品切条，平坦薄片，厚度约0.05mm~5mm，典型值为1mm;

● 一个谐振腔对应一个频点;

● 优点：精度高达±1%，对样品尺寸加工要求不高，非常适合低损材料测试;

● 缺点：不支持宽带测试，单个谐振腔可测频率窄，分析比较复杂;