介电常数介质损耗测定仪——使用知识
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一、概述： 三、配置： LJD系列介电常数及介质损耗测试系统使用方法 一 手动介电常数测试方法与步骤 测试前主机建议预热30分钟
把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上，锁止开关向上旋转。（使用完，请按OFF关闭微分尺，并且锁止开关向下旋转至水平位置）3、在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。 4、被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间(当材料介电大于6的情况下建议材料≥2mm)，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平整。（小于0.5mm的样品测试，请参考附录三，叠加测试法） 5、调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。 6、再松开两片极片，把被测样品夹入平板电容上下极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，直到平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量（旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量），使主机处于谐振点（Q值最大值）上。 7、取出S916测试夹具中的样品，这时主机又失去谐振（Q值变小），此时调节S916测试夹具的测微杆，使主机再回到谐振点（Q值最大值）上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4. 8、计算被测样品的介电常数: Σ＝D2 / D4 二 自动介电常数测试方法与步骤(需选配自动测试软件模块) 1. 自动介电常数测试时，基本步骤同手动一样，只是主机支持通过数据模块记录S916测试夹具的数据，并自动计算出介电常数。 2. 使用数据转换连接线,连接S916数据传输接口和介电常数测试主机背板上的四芯插座.（见下图） 3. 按主机键盘区“2”按键第一次，出现下图界面.
编辑 搜图 编辑 搜图 编辑 搜图 编辑 搜图 4. 当S916测试夹具夹紧待测材料，调节主机的主调电容使主机谐振，此时第二次按主机键盘区“2”按键。此时主机将保留最终的D2数据，并显示下图界面
编辑 搜图 编辑 搜图 编辑 搜图 编辑 搜图 5. 拿出被测材料，再次调节S916测试夹具的上下极片，直到主机再次谐振，最后再一次按下主机键盘区“2”按键，主机保存D4数据，并计算出介电常数的数值。显示下图界面，此时主机已经把计算出的介电常数e显示在显示屏上。 6. 按主机键盘区“LT”按键两次退出测试，结束测试。 三、 介质损耗测试方法与步骤 主机C0值的计算方式:
编辑 搜图 编辑 搜图 编辑 搜图 编辑 搜图 其中C0 a) 选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端； b) 将调谐电容器调到200P左右，令这个电容是C4， c) 按下仪器面板的频率搜索键，使测试回路谐振，谐振时Q的读数为Q4(注：若频率搜索未能找到最高Q值谐振点，可以通过频率旋钮来微调频率来达到Q值最大值的谐振点； d) 将测试夹具接在“Cx”两端，放入材料，上下极片夹紧材料后记住夹具显示值，然后拿出材料，调回到夹具的显示数值，调节主调电容，使测试电路重新谐振，此时可变电容器值为C3，Q值读数为Q3。(注：C3数值肯定比C4要小) 机构电容的有效电容为：Cz= C4－C3 分布电容为机构电容CZ和电感分布电容CL（参考电感的技术说明）的和 介质损耗系数/介质损耗正切值为
编辑 搜图 编辑 搜图 编辑 搜图 编辑 搜图 2. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。 3. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。 4. 被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平直。 5. 调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。再松开两片极片，把被测样品夹入两片极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，到的平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2，改变主机上的主调电容容量，使主机处于谐振点（Q值最大值，为了得到准确的Q值请耐心来回调节主调电容，当Q为最大值时候可以稍等1分钟，等Q值稳定），然后按一次 主机上的小数点（tgδ）键(请用绝缘材料来按，不要用手来按），在显示屏上原电感显示位置上将显示C0= x x x(C0=Cz CL电感分布电容)需要手动输入，记住厚度D2的值，此时显示数值为C2和Q2。 6. 取出S916测试夹具中的样品，（保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变）这时主机又失去谐振（Q值变小），再改变主机上的主调电容容量，使主机重新处于谐振点（Q值最大值，为了得到准确的Q值请耐心来回调节主调电容，当Q为最大值时候可以稍等1分钟，等Q值稳定））上。 7. 注意：多次测试同一个材料时，要求保持每次材料厚度的读数一致。 8. 第二次按下 主机上的小数点（tgδ）键，显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1，同时显示介质损耗系数tn =．x x x x x ，即完成测试。 9. 出错提示，当出现tn = NO 显示时，说明测试时出现了差错，发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。 附录 一 显示数据介绍：
附录 二 LKI-1电感组 LKI-1型电感组共包括不同电感量的电感9个，凡仪器在进行测试线圈的分布电容量，电容器的电容量，高频介质损耗，高频电阻和传输线特性阻抗等高频电路和元件的电性能时，必须用电感组作辅助工具。 本电感组有较高Q值，能使仪器测量时得到尖锐谐振点，因而增加其测量的准确度，各电感的有关数据如下表：
附录 三 粘性材料以及超薄材料的测试方法一 如何测试带粘性超薄绝缘材料的介电常数1 用锡箔纸覆胶在材料的两面，上下层锡箔纸不能接触。锡箔纸厚度为DX; 2 超薄材料需要叠加：叠加方式如下 250μ贴合6层后测试； 200μ贴合8层后测试； 175μ贴合9层后测试； 125μ贴合12层后测试； 100μ贴合15层后测试； 75μ贴合20层后测试； 50μ贴合30层后测试。 3 计算公式 Σ＝(D2-2*DX)/D4 4 介质损耗系数测试同理 二 单层薄膜材料测量，最薄50um（此方法误差较大，只能测试一个参考数据）1 主机频率调整到1MHz，在电感接线柱上插上6号电感，在电容接线柱上插上S916测试夹具。 2 把S916测试夹具上下极片调整到0.05mm，调节主调电容，直到Q值最大。记录下此时的主调电容值 C1。 3 把薄膜放入S916测试夹具中，再次调节主调电容，直到Q值最大。记录下此时主调电容值C2。使用C1-C2得到薄膜材料的电容值C3. 4 1）38mm极片下：Σ≈ta×C3×10-1 （ta是样品厚度，单位为毫米，C3单位PF） 2）6mm极片下：Σ≈ta×C3×10-1×57.52÷2 （ta是样品厚度，单位为毫米，C3单位PF） 5 此测试方法误差较大，叠厚测试比较推荐 附录 四 液体材料测试 1 液体材料的测试和固体方法一样。 2 把S916测试夹具的下极片更换成液体杯。倒入需要测试的液体，液体应该少于液体杯1/2左右。然后按照固体材料的测试方法测试即可。 |
