测量光耦好坏的常见方法

光耦（Optocoupler）是将发光二极管（LED）和光敏晶体管（Phototransistor）或光敏二极管（Photodiode）集成在一起的半导体器件，用于实现电气隔离和信号隔离。光耦的电气隔离和信号隔离能够有效地提高系统的抗干扰能力，并且可以实现各种电路之间的匹配和隔离。

测量光耦（光电耦合器）的好坏可以通过多种方法来进行。以下是一些常见的方法：

外观检查：首先，检查光耦的外观是否有物理损坏如裂纹，烧焦，变形等。如果发现外观有明显的物理损坏，那么很可能意味着光耦已经损坏。

使用万用表检测：通常的万用表都有PN结测试功能，利用这一功能可以检测光耦的输入端二极管和输出端的晶体管。要注意的是，不同的光耦可能需要使用不同模式（NPN或PNP）的万用表进行测试。

工作电压测试：通过万用表或示波器测量光耦的输入和输出电压。在测试前，应确保按照光耦规格书提供正确的电压和极性。如果测量值与预期的电压有出入，那么很可能意味着光耦存在问题。

光耦传输特性测试：测试光耦的传输特性，即在不同的输入电压条件下，输出电流的变化情况。这通常可以通过改变输入电压，同时测量输出电流以及通过绘制输入电压和输出电流的曲线图进行。

使用示波器观察波形：如果条件允许，可以使用示波器观察光耦输入和输出的信号波形。通过比较波形是否有明显异常，可以判断光耦是否工作正常。